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商品資訊
產品定位
精密花崗石平台為高剛性、低熱膨脹係數的天然量測基準，解決工程師在精密裝配、AOI 檢測與量測校驗時，因環境溫差或材料變形導致的幾何誤差問題。
應用場合
- 半導體 AOI 自動光學檢測設備機座。
- 三次元座標量測儀（CMM）之基準工作面。
- 精密工具機之組裝基準與線性導軌安裝面。
- 高精度雷射干涉儀量測環境。
- 電子零組件靜電敏感製程之承載平台（需選配防靜電處理）。
規格
本產品依據 DIN 876 或 GB/T 20428 標準加工與檢驗，平面度計算公式如下（D 為對角線長度，單位 mm）：
精度等級 平面度公差計算公式 ($mu m$) 備註 000 級 $1 times (1 + D / 1000)$ 極精密實驗室等級 00 級 $2 times (1 + D / 1000)$ 檢測與研發等級 0 級 $4 times (1 + D / 1000)$ 生產與裝配基準等級 *註：平面度加工極限為 0.015 mm（15 $mu m$）。*
材質與選項
- 材質： 嚴選深色天然花崗石，具備高硬度、不生鏽、無磁性且不產生塑性變形。
- 尺寸範圍： 單件最大加工長度約 4,000 mm。
- 加工選項： 依圖面需求鑽孔、埋設不鏽鋼螺套、加工 T 型槽或 V 型槽。
- 特殊表面： 可配合半導體製程需求提供防靜電塗層，表面電阻值維持於 $10^5 sim 10^9 Omega$（符合 IEC 61340-2-3 規範）。
- 校驗報告： 出廠提供自主檢測報告，亦可依需求提供第三方公正單位量測報告。
詢價須提供資料
請提供正式圖面（標註尺寸、平面度等級、螺孔或槽位座標與公差要求，建議參考 GB/T 1804-m 標準）、需求數量、交期以及安裝地點，以便評估運輸與現場安裝可行性。
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