AOI面板及PCB板瑕疵檢查機(一)
商品圖像
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商品資訊
產品定位
本設備為採花崗岩構型的高精度二次元影像量測平台，整合線性馬達與雷射干涉儀回授系統，專為解決面板與 PCB 製程中因熱變位及定位精度不足所導致的瑕疵檢測誤差。
應用場合
- FPD 大尺寸面板之幾何尺寸量測與表面瑕疵自動化光學檢測 (AOI)。
- 高密度 PCB/IC 載板之線路品質與鍍通孔 (PTH) 外觀檢查。
- 精密微縮影像系統之高穩定定位載台。
- 需低振動干擾之精密量測環境，配合高倍率 CCD 顯微光學系統。
- 非接觸式雷射追焦系統之玻璃基板厚度與平整度動態量測。
規格
項目 規格描述 行程範圍 0.5m × 1.5m / 1.3m × 1.5m 結構材質 高穩定度花崗岩架構 (Granite Structure) 驅動裝置 線性馬達 (單驅動配置) 導引裝置 精密線性滑軌 影像裝置 CCD、顯微光學系統、雷射追焦系統 回授裝置 雷射干涉儀 (Laser Interferometer) 材質與選項
設備基座採天然花崗岩加工，符合 DIN 876 或 GB/T 20428 之幾何公差要求，本公司最大加工能力可達 4 公尺，平面度加工極限為 0.015 mm。針對精密環境需求，可選配德國 Fabreeka 減振器（羽昌科技為台灣代理，供應範圍僅限台灣地區）以強化制振效果；若應用於靜電敏感區域，可提供電阻值符合 $10^5 sim 10^9$ 歐姆（IEC 61340-2-3）之表面處理。所有量測精度均可提供第三方公正單位量測報告，以符合 ISO 230-2 定位精度規範或 ASME B89.3.7 標準。
詢價須提供資料
請提供包含幾何公差標註之 CAD 圖面（建議參考 GB/T 1804-m 等級）、明確的行程需求、所需定位精度與重複性精度指標、預計訂購數量以及期望交期，俾利工程部門進行技術評估與報價。
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商品Q&A